Vis enkel innførsel

dc.contributor.authorSkomedal, Gunstein
dc.contributor.authorVehus, Tore
dc.contributor.authorKanas, Nikola
dc.contributor.authorSingh, Sathya Prakash
dc.contributor.authorEinarsrud, Mari-Ann
dc.contributor.authorWiik, Kjell
dc.contributor.authorMiddleton, Peter Hugh
dc.date.accessioned2020-03-30T08:28:33Z
dc.date.available2020-03-30T08:28:33Z
dc.date.created2019-11-21T11:18:53Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationSkomedal, G., Vehus, T., Kanas, N., Singh, Sathya P., Einarsrud, M.- A., Wiik, K. & Middleton, Peter H. (2019). Long term stability testing of oxide unicouple thermoelectric modules. Materials Today: Proceedings, 8 (2), 696-705. doi:en_US
dc.identifier.issn2214-7853
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11250/2649300
dc.language.isoengen_US
dc.publisherElsevieren_US
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internasjonal*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.no*
dc.titleLong term stability testing of oxide unicouple thermoelectric modulesen_US
dc.typePeer revieweden_US
dc.typeJournal articleen_US
dc.description.versionpublishedVersionen_US
dc.rights.holder© 2019 The Author(s)en_US
dc.subject.nsiVDP::Teknologi: 500en_US
dc.source.pagenumber696-705en_US
dc.source.volume8en_US
dc.source.journalMaterials Today: Proceedingsen_US
dc.source.issue2en_US
dc.identifier.doi10.1016/j.matpr.2019.02.070
dc.identifier.cristin1750367
dc.relation.projectNorges forskningsråd: 228854en_US
cristin.qualitycode1


Tilhørende fil(er)

Thumbnail

Denne innførselen finnes i følgende samling(er)

Vis enkel innførsel

Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internasjonal
Med mindre annet er angitt, så er denne innførselen lisensiert som Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internasjonal